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NFA-1007 Advanced
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半導體檢測分析相關產品
超潔淨 PFA/PP 採樣管 (有機化合物 & 離子分析專用管路 )
潔淨 PFA 採樣瓶 (無機化合物分析專用)
潔淨 PP 採樣瓶 (離子層析專用)
VOCs 分析專用採氣罐
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超純試劑微量元素分析
超純試劑微量元素分析 Trace metal analysis
使用感應耦合電漿串聯式質譜儀 (ICP-QQQ) 進行微量元素分析,樣品可為 UPW、超純酸、鹼、有機溶劑、蝕刻液...等化學品及晶圓表面萃取酸溶液,其偵測極限可達 ppq 濃度範圍
應用範圍 : 化學品原料控管:顯影劑、蝕刻液、光阻劑、UPW;製程污染: 半導體蝕刻製程、生產製程段(空氣中微量金屬檢測);晶圓表面殘留;化學廠生產品質控管等 (如圖製程特用化學品)
製程特用化學品